E138
Institut für Festkörperphysik

RESEARCH

Structure / Analytics

STRUCTURE / ANALYTICS

Techniken / Methoden


 

Geräte


Transmissionselektronenmikroskope JEOL 2000FX/EDS;
FEI TECNAI F20/field emitter/EDX/GIF/HAADF (USTEM);
FEI TECNAI G20/ LaB6/EDX/GIF/Low-Voltage (USTEM)
Rasterelektronenmikroskope FEI XL30 ESEM;
FEI Quanta 200 FEGSEM (USTEM)
Focused Ion Beam FEI Quanta 200 3D DBFIB (USTEM)
Röntgenpulverdiffraktometer Siemens Kristalloflex D5000, D500; Enraf Nonius FR591/Bruker AXS;
4.2 - 2000 K
Laue-Anlage Bruker-AXS-Netzgerät, Laue-Kameras
Rasterkraftmikroskop im Hochvakuum, Non Contact, Pulsed Force Mode