STRUCTURE / ANALYTICS
Techniken / Methoden
- Elementanalyse: EPMA, EELS
- Strukturanalyse: TEM, XRD, Gitterfehler
- Bildgebende Verfahren
- Entwicklung neuer Analysemethoden
Geräte
| Transmissionselektronenmikroskope |
JEOL 2000FX/EDS; FEI TECNAI F20/field emitter/EDX/GIF/HAADF (USTEM); FEI TECNAI G20/ LaB6/EDX/GIF/Low-Voltage (USTEM) |
| Rasterelektronenmikroskope |
FEI XL30 ESEM; FEI Quanta 200 FEGSEM (USTEM) |
| Focused Ion Beam | FEI Quanta 200 3D DBFIB (USTEM) |
| Röntgenpulverdiffraktometer |
Siemens Kristalloflex D5000, D500; Enraf Nonius FR591/Bruker AXS; 4.2 - 2000 K |
| Laue-Anlage | Bruker-AXS-Netzgerät, Laue-Kameras |
| Rasterkraftmikroskop | im Hochvakuum, Non Contact, Pulsed Force Mode |